中析研究所设有仪器检测实验室，拥有三百余台进口检测设备，可进行规范严谨的项目实验。其中X射线光电子能谱分析仪，可提供XPS测试，出具准确的检测报告。

检测费用：免费初检，根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。

检测周期：7-15个工作日出具检测报告。

联系电话：400-062-0567或点击在线咨询，将有我们的研发工程师与您1对1沟通。

XPS测试概述

X射线光电子能谱技术(X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS)是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

检测项目

元素组成鉴别：给出表面元素组成，鉴别某特定元素的存在性。

化学态分析：化学位移；俄歇参数；震激峰、多重分裂等伴峰结构；价带谱结构。

XPS定量分析：确定元素在样品表面的浓度和元素相对含量。

元素沿深度方向的分布分析：利用Ar离子束溅射法进行样品的深度分析，得出元素沿样品深度方向的分布。

检测范围

(1)当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择XPS进行分析，XPS能分析≥10μm直径的异物成分以及元素价态，从而确定异物的化学态，对失效机理研究提供准确的数据。

(2)当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行厚度测量，可选择XPS进行分析，利用XPS的深度溅射功能测试≥20nm膜厚厚度。

(3)当产品表面有多层薄膜，需测量各层膜厚及成分，利用D-SIMS能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。

(4)当产品的表面存在同种元素多种价态的物质，常规测试方法不能区分元素各种价态所含的比例，可考虑XPS价态分析，分析出元素各种价态所含的比例。

中析研究所检测优势

实力保障：集体所有制科研所，科研项目全。

免费初检：免费进行初检，让您检测无忧。

周期更短：7-10个工作日可出具检测报告。

优质服务：工程师1对1服务，全程项目跟进。

技术先进：博士团队，欧美进口设备300余台。

严谨公正：公检法部门合作单位，科学准确。

多家分部：接受全国上门取样/寄样服务。

一键查询：支持扫描查询真伪，报告认可度高。

中析研究所报告用途

销售：出具检测报告，提成产品竞争力。

研发：缩短研发周期，降低研发成本。

质量：判定原料质量，减少生产风险。

诊断：找出问题根源，改善产品质量。

科研：定制完整方案，提供原始数据。

竞标：报告认可度高，提高竞标成功率。

中析研究所检测流程

1、咨询工程师，提交检测需求。

2、送样/邮递样品。

3、免费初检，进行报价。

4、签订合同和保密协议。

5、进行方案定制、实验。

6、出具实验结果和检测报告。

7、更多增值服务。

因为网站篇幅有限，只列举了部分的检测范围和项目。详情请拨打免费热线：400-062-0567或点击在线咨询，将会有工程师为您1对1解答。中析研究所检测实验室，将会为您提供较优质的检测服务!

服务地点

服务对象

公检法部门，企事业单位，大学高校，军工单位，部门个人，其他